反射式膜厚测量仪：高精度，高感度，操作简单

　　反射式膜厚测量仪可以实现多层薄膜厚度测量，又被称为光干涉测量仪，不仅对薄膜有着良好的测量效果，同时对厚膜也有着广范围的测量作用，在其测量过程中利用紫外线到红外线波长的变化，对被测物实现穿透式测量，同时在高分辨率传感器的使用下，对被测物实现厚度上的测量。

　　反射式膜厚测量仪使用特点：

　　1、波长范围广，可以实现190纳米到1600纳米范围之内的长度测量;

　　2、可对大型样品实现厚度测试;

　　3、机体整个结构设计简单，台式结构非接触测量，在测量时，直接将被测物放在侧头上便可以实现测量;

　　4、测量精度高，所得数据值直接存在数据库中，不会出现丢失，和互联网实现互联，薄膜厚度数据得到了永久性存储;

　　反射式膜厚测量仪测量项目：

　　主要被使用化工行业、医学行业、塑料生产行业等，因此测量项目主要集中在多层膜厚解析、绝对发射率测量以及光学常数解析等。

　　反射式膜厚测量仪结构组成：

　　主要由光谱仪、测量用光源、观测用CCD相机、观测用光源、对物镜头、样品以及样品架等等，这些只是大概结构部件，根据测量仪类型的不同，影响到机体内部组成的不同，具体情况具体分析。

　　反射式膜厚测量仪参数介绍：

　　被测物尺寸需要满足长宽高分别是200毫米、200毫米、7毫米，在测量膜厚范围上需要满足在1纳米到1毫米之间，测量波长范围一般情况下在190纳米到1600纳米之间，这一点以上也有介绍过，机体测量中可测量的膜数需要控制在不超过50层，另外在传感器使用上最好是使用电子冷却型光电二极管，这种光电二极管精准度高，体积小，不易坏，使用寿命时间长。

　　反射式膜厚测量仪因为波长范围广，测量精准度高，所以被广泛使用在各行各业，比如在强电解质、树脂膜以及光学膜等行业的使用，随着社会的快速发展，相信这种反射式测量仪未来的使用性能将越来越全面。