MAI显微镜适配器，可与任何一台正置显微联用，将MProble系列测厚仪加到显微镜上，用于微小样品的厚度测量，包含一个200万像素CCD，可对测量区域进行成像。 尺寸 100mm x 40mm x 30mm 重量 0.5kg 显微镜接口 C型接口 相机 200万像素 通讯 USB连接 电源 USB供电 （MAI显微镜适配器示意图） （测量区域拍照，十字线中点为测量点） 我们乐意为您进行免费样品测量，欢迎来电咨询。 美国Semiconsoft中国总代理 上海全耀仪器设备有限公司 全国咨询热线：400-992-5592 Email：info@filmgauge.com.cn 上海全耀代理产品：膜厚测量仪，薄膜测试仪，膜厚仪，厚度测量仪以及MProbe MSP显微薄膜测试仪等，欢迎广大用户前来订购。

测量曲面样品或样品无法移动时，需要用到特殊的探头，这些探头包裹一层柔性橡胶，可以直接放到样品上面，用光纤将其与主机相连。基于不同的应用，有三个型号可选。 MP-FLVi：用于基底较薄且透光的薄膜，需要消除背面反射 MP-RP90：用于可接受2mm光斑直径及不需要考虑背面反射的样品 MP-RP45：可用45度测量厚度 MP-FLVis 包含可见光聚焦镜头，0.4mm光斑直径 MP-RP90 2mm光斑直径，光谱范围较宽 MP-RP45 包含两个石英准直器，以45度角测量样品 我们乐意为您进行免费样品测量，欢迎来电咨询。 美国Semiconsoft中国总代理 上海全耀仪器设备有限公司 全国咨询热线：400-992-5592 Email：info@filmgauge.com.cn 上海全耀代理产品：膜厚测量仪，薄膜测试仪，膜厚仪，厚度测量仪以及MProbe MSP显微薄膜测试仪等，欢迎广大用户前来订购。

采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。 测量范围: 100 nm -200um 波长范围: 900 nm -2500 nm 适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等 测量指标：薄膜厚度，光学常数 界面友好强大: 一键式测量和分析。 实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。 （MProble NIR薄膜测厚仪系统示） 系统性能参数： 精度 <0.01nm or 0.01% 准确度 <0.2%or 1 nm 稳定性 <0.02nmor 0.03% 光斑直径 标准3mm, 可以小至3um 样品大小 大于1 mm 技术参数： 测量范围 100nm-200um 精度 <0.01nmor 0.01% 准确度 <0.2%or 1 nm 稳定性 <0.02nmor 0.03% 波长范围 NIR: 900-1700 NIRX: 900-2200 NIRX2:1550-2500nm ...

大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物涂层(聚对二甲苯，聚甲基丙烯酸甲酯，聚酰胺)。 测量范围: 15 nm -50um 波长范围: 400 nm -1100 nm MProbe Vis薄膜测厚仪适用于实时在线测量，多层测量，非均匀涂层, 软件包含大量材料库(超过500材料)，新材料可以很容易的添加，支持多重算法：Cauchy, Tauc-Lorentz, Cody-Lorentz, EMA等。 测量指标：薄膜厚度，光学常数 界面友好强大: 一键式测量和分析。 MProbe Vis薄膜测厚仪实用的工具：曲线拟合和灵敏度分析，背景和变形校正，连接层和材料，多样品测量，动态测量和产线批量处理。 （MProble NIR薄膜测厚仪系统示） 性能参数： 精度 <0.01nm or0.01% 准确度 <0.2% or 1 nm 稳定性 <0.02nm or 0.03% 光斑直径 标准3mm, 可以小至3um 样品大小 大于1 mm 案例1，300nm二氧化硅薄膜的测量： 硅晶圆反射率，测量时间10ms： 案例2，测量500nm氮化铝，测量参数：厚度和表面粗糙...