使用膜厚测量仪进行测试的时候需要注意哪些地方?

　　对膜厚测量仪使用过的朋友都知道它的使用方法主要有磁性测厚法、放射测厚法、点解测厚法超声波测厚法。在使用它的过程中，有的地方是需要注意的，可是有的朋友总是不注意，导致对膜厚测量仪产生了一定的损害。那么，具体来说，它在进行测试的时候，需要注意哪些地方呢?

　　在进行测试的时候有一个地方需要特别注意，那就是标准片集体的金属磁性与表面的粗糙程度最好是跟试件非常的相似。这样的好处就是可以让测量的误差尽量小。在有的地方是需要特别重视的，有的朋友在使用膜厚测量仪的时候，经常忽略垂直，在测试的时候一定要保持侧头与试样的表面是垂直的。

　　在测试的过程中，如果不注意基体金属的临界高度的话，也非常容易造成测试的误差。假如测试的时候临界高度大于这个厚度测量的话肯定就不会受到金属厚度的影响。所以说在测试的过程中，还是需要注意它的临界高度的。在测量的时候最好是注意一下它的曲率，曲率有的时候同样会对测量造成一定的误差。所以说如果是在弯曲的试件表面进行测量的时候，一定要看看它的弯曲程度。

　　对膜厚测量仪进行深入的了解，你会发现发现它的一些物理现象，在物理中我们知道磁场与磁场之间是会产生一定的干扰的。所以说在使用它的时候，你还需要注意，有的设备会产生磁场，所产生的磁场会对测量的精确度产生一定的影响。所以说在测试之前，最好是先了解一下所测试的设备是否会产生磁场，以便减小测试的误差。

　　这就是跟朋友们介绍的使用膜厚测量仪进行测试的时候需要注意的一些地方。当然除了上文介绍的这些方法之外，有的地方也是需要注意的，比如说测量的过程中一定要保持压力的恒定，要不然的话，往往会影响的读数的准确度。读数被读错，很多人都把这种做法称为是一种低级的错误。