什么是反射式膜厚测量仪？有何特点？

　　膜厚测量仪是一种被广泛使用在金属箔片生产行业的厚度测量设备，通过物理发射性穿透原理，利用超声波变化，从而实现材料测试功能。反射式膜厚测量仪便是其中一种类型，也能对薄膜性质的材料实现厚度测量功能。

　　那么什么是反射式膜厚测量仪呢?

　　其在使用过程中主要是通过反射原理实现材料厚度测量，薄厚测量仪在使用中主要是通过α、β、γ三种射线实现被测物厚度测量。只是相比较而言，采用反射式设备测量的话，在测量方式上没有可选性，已经被固定住，这样也有好处，很大程度上方便操作者使用，有助于工作效率的提升。

　　反射式膜厚测量仪特点：

　　1、非接触式测量

　　这种测量仪是采用非接触式测量方法，在不接触被测物的情况下的，可以确保在测量过程中不会对被测物造成破坏，完全不会破坏样品，最大程度上保证了测量仪的完整性;

　　2、测量精度高

　　所谓的反射式测量主要是通过紫外线测量反射率光谱，将被测物的薄膜厚度以及光学常数记录下来，测得平均值，最终所得的测量精度是非常高的;

　　3、测量方便

　　通过显微镜的协助下，实现微距测量被测物的口径，能够实现宽度在190纳米到1100纳米的波长测量范围;

　　反射式膜厚测量仪测量规格：

　　测量规格主要包括膜存范围、波长范围、电源规格以及重量等等，其中波长范围以上提到过在190纳米到1100纳米之间，膜存范围在1纳米到40纳米之间;光源规格可选性比较多，主要有紫外线、可见光以及紫外和可见混合光源;重量范围一半在96kg左右，仅限被测物的主体部分;

　　反射式膜厚测量仪应用范围：

　　因为这种反射式测量仪比较方便使用，而且测量范围精准，因为被广泛使用在许多行业，比如半导体应用、光学材料测量以及平面显示器厚度测量等等;

　　什么是反射式厚度测量仪?以上内容对该问题进行了详细解答，主要让各位了解设备测量原理以及测量特点、规格和应用范围上的相关信息。