薄膜测厚仪的原理以及特点有哪些?

　　薄膜测厚仪是常用的一种测量工具，也称之为测厚仪，这种测厚仪一般只适用于塑料薄膜的厚度，也可以测量纸张、隔膜以及硅片等材料的厚度，精准度非常的高，下面主要来介绍一下薄膜测厚仪的原理。

　　薄膜测厚仪它是使用两个激光传感器，安装在被测物体的上下方，比如说安装在纸张的上下方，将传感器稳定在支架上，一定要固定好，要确保两个传感器上的激光可以在同一点上面，如果是没有对准的话势必会影响准确度。随着被测物体移动，薄膜测厚仪里面的移动传感器就会对被测物体表面进行采样，可以测量出被测物体上下表面的距离，同时也可以测量出上下两个激光唯一传感器的距离。测得的数据就会通过串口传输到计算机里面，然后通过计算机里面的测厚软件进行数据处理，最终就会得到被测物体的厚度多少。

　　薄膜测厚仪发展到现在还是应用的很广了，可以说是非常重要的一种测量工具，这种非接触式薄膜测厚仪的出现，大大提高了一些超薄纸张等片材材料厚度的精确度，尤其是在自动化生产当中，薄膜测厚仪是非常关键的。而且自动化的现在，这种设备是很关键的，因为很多的时候都是需要这种精准度高的数据。

　　薄膜测厚仪的特点很多，主要有这么几点：一、薄膜测厚仪采用先进的技术，微电脑控制，液晶显示屏，操作简单，接触式测量，准确度非常高，应用范围很广，不仅仅是测量薄膜，其他的片材质量也过关;二、测头是采用全自动升降系统，可以实现手动自动测量，用户可以根据自己需要进行手动或者自动测量，灵活性很高;三、可以实现数据显示、统计以及打印，同时薄膜测厚仪还会显示最大值，最小值以及统计偏差，甚至平均值都可以显示，这就可以满足用户的需要;四、薄膜测厚仪可以连接微型打印机，支持局域网数据采集与传输，对数据进行统一管理。