OLED行业应用—LT-N865材料薄膜厚度的测量

OLED行业应用—LT-N865材料薄膜厚度的测量：　　

MProble UVVisSR系统(光谱范围200-1000nm)产被用来测量LT-N865(C38H26N4 ‐ BmPyPhB)材料薄膜的厚度及折射率和消光系数。LT-N865是由台湾Luminescence Technology Corp公司生产的一种导电材料，产用与新型的OLED器件中。这种材料层积在玻璃表面，我们需要测量它的厚度和光学常数。

通过的研究原始反射光谱图(图1)，得到一些信息可以用于的数据分析：

1. 反射率相对较低，基本与空白玻璃相当(两者反射率大约相差4%-5%)

2. 在350nm以下波段存在吸收，空白样品的透射率测量(图2)结果显示玻璃在350nm的吸收导致了这一现象。

3. 在可见光范围内，其反射光谱曲线比较平滑，说明厚度应小于200nm

4. 反射光谱曲线有折叠，说明需要考虑粗糙度和光散射的影响

根据以上信息，我们可以建立一个测量模型：

a. 为消除玻璃对350nm以下波段存在吸收的影响，我们只分析350nm-1000nm的数据

b. LT‐N865材料在350-1000nm光谱范围内的折射率和消光系数用Tauc‐Lorentz模型来计算，折射率从1.5开始，消光系数小于0.1

c. 光散射和玻璃背面反射的影响考虑到模型中

我们乐意为您进行免费样品测量，欢迎来电咨询。

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