显微膜厚测量仪是一款测量产品厚度的设备，可以实现高效的产品测量，帮助我们提高检测的精度。壁厚测量仪是进行厚度测量的主要仪器，利用超声波脉冲反射原理来进行厚度测量，实现了非接触式的测量。我们是通过测量超声波在材料中传播的时间来确定材料的真实厚度的，测量的结果可以实现高精度的转换，保证最终的产品测量精度。凡是可以进行声音传播的产品都可以利用该设备进行检测，帮助我们提高设备的检测精度。

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  MProbe MSP显微薄膜测厚仪

  大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物...

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