为更好的使用薄膜测试仪，测量方法不得不了解！

　　薄膜测试仪属于测厚仪中一种，在其使用上主要是通过PVC操作面板对被测物实现薄膜度检测，利用包材厚度检测方式，为薄膜等厚度低的材料实现厚度上的测量，从而确定被测物厚度是否均匀，在此基础上对薄膜各项性能实现全面的检查，为被测物后续生产做好准备。

　　那么薄膜测试仪在使用上具体使用哪些测量方法的呢?下面逐一为大家介绍：

　　薄膜测试仪测量方法一：机械方法

　　机械测量可以说是比较典型的测量方法之一，一般情况下主要被分成两种接触方式，一种是精密接触，另一种是少量接触方式，前者在使用时建立在台阶仪使用上，而后者有三种可使用方式，分别是AFM、SEM以及TEM等等;采用机械测量方法的优势好处就在于不收材料限制，实用性广泛，尤其是对金属膜的测试，厚度测量精准;

　　薄膜测试仪测量方法二：光学方法

　　光学测量方法相对于机械方法在厚度测量上更加的精准，其主要是利用光在被测物上的传输，由复折射率决定，利用光与材料原子形成的相互作用，利用发射光实现厚度上的测试，这种光学测量方法在使用上是非常方便;

　　薄膜测试仪测量方法三：椭偏测量方法

　　椭偏测量方法相比较其他测量方法，具有一定特殊性，其利用数据采集方式，使用MSE评估拟合质量，同时利用椭偏仪特殊的结构，通过相位补偿器，同时在探测器的作用下，对被测物实现膜厚、表面粗糙等方面的测量;这种椭偏测量方法在使用中一般主要是针对透明材料使用的比较多，利用折射率的变化，对消光系数、折射率梯度等相关参数实现记录。

　　对薄膜测试仪使用者来说，了解测量方法有什么作用呢?正如以上所说的那样，在足够了解测试仪的基础上，懂得如何操作设备，才能确保设备使用过程中不会出现突发问题，及时是出现问题，建立在足够了解的基础上能够针对问题拿出处理方案。