膜厚测量仪的三大分类及其相应的的特点

　　没接触过膜厚测量仪的朋友，对它肯定是陌生的。事实上，在一些化学或者生物的实验中，我们就已经看到过这些设备的影子了。这种设备是用来进行测量的，在使用的过程中，每个人关注的地方是不一样的。对于这种设备，你对它了解有多少呢?它有一些什么样的分类，有一些什么样的特点呢?我们一起来学习一下它的三大分类及其相应的特点。

　　激光测厚仪。顾名思义，这种膜厚测量仪，它是跟激光有关的。这种设备是根据一些反射原理来控制线接的，它的工作原理采用的是背部一些独特的光切信号来进行的。这种设备有一个比较显著的特点就是它可以跟数字信号进行一定的结合，然后再与计算机进行相应的连接。测试到偏差值就是测试的结果，这个测试结果会被输入到一些工业设备之中。

　　X射线测厚仪。X射线是在近代科技社会中，一些物理学家发现的一种射线。这种膜厚测量仪与激光测厚仪不同是，它是利用内部的X射线进行测量的。一些学过物理的朋友就明白，X射线跟一些物体厚度的变化是有着很大的关系的。既然这样的话，设备在实际运行的过程中，就可以根据设备的厚度来进行一定的测量。所以说这种设备的优势就是在测量的过程中采用的非接触式的测量。这种设备还会与PLC控制技术及其计算机有一定的关联。

　　涂层测厚仪。这种类型的膜厚测量仪，它采用的原理是电磁感应，电磁感应的方式可以测量涂层的厚度。在这种设备的一个部件的表面会有一个比较特殊的探头，在设备测量的过程中，探头与磁性材料之间产生距离的变化，就可以根据这个变化值进行一定的测量，可以非常精确地测试涂层的厚度。

　　这就是跟朋友们介绍分享的膜厚测量仪的三大分类及其相应的特点。激光测厚仪，它是一种与激光有关的设备;X射线测厚仪，它是一种与X射线有关的设备;涂层测厚仪，它是一种与电磁感应有关是设备。