由上海全耀提供的非接触式光学膜厚仪是利用光学干涉原理和测量薄膜的反射光谱原理得出薄膜的实际厚度。膜厚仪主要用于测量尖端设备的生产中不可或缺的极薄膜、多层膜乃至半导体晶圆的硅胶基板厚度，膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。比如：二氧化硅，氮化硅，多晶硅，非晶硅，硅，光刻胶，聚合物膜层，聚酰亚胺等。全耀公司提供产品还包括：膜厚测量仪，薄膜测试仪，厚度测量仪以及薄膜测厚仪等，如果您对我们公司提供的产品有需求，欢迎您随时拨打我们公司的电话：400-992-5592。

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  MProbe NIR薄膜测厚仪

  采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。 测量范围: 100 nm -200um 波长范围: 900 nm -2500 nm 适用于...

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  EC-770N 导电金属基涂层测厚仪

  EC-770N涂层测厚仪，能测量非磁性金属基材表面的非导电涂镀层(如油漆等)。本仪表内置高精密探头，利用涡流效应，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可...

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  EC-770F 铁基涂层测厚仪

  本仪表内置高精密探头，利用电磁感应原理，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多点校准。全新的多点校准和零校...

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  Map薄膜厚度测绘仪

  大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物...

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  MProbe MSP显微薄膜测厚仪

  大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚合物...

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