反射光谱薄膜测厚仪可以实现产品的厚度检测，实现了高精度检测服务。我们使用超声波测厚仪可以帮助我们更好的实现高精度检测，同时降低对设备的破坏。我们可以利用这款设备实现高效的检测，通过该设备我们会还可以实现非接触检测，帮助设备实现高效的检测服务。

• 
  MAI显微镜适配器

  MAI显微镜适配器，可与任何一台正置显微联用，将MProble系列测厚仪加到显微镜上，用于微小样品的厚度测量，包含一个200万像素CCD，可对测量区域进行成像。 尺寸 100mm x 40mm x 30mm 重量 0.5kg 显微镜接口 C型接口 ...

  查看更多
• 
  便携式探头

  测量曲面样品或样品无法移动时，需要用到特殊的探头，这些探头包裹一层柔性橡胶，可以直接放到样品上面，用光纤将其与主机相连。基于不同的应用，有三个型号可选。 MP-FLVi：用于基底较薄且透光的薄膜，需要消除背面...

  查看更多

上一页 12