反射光谱薄膜测厚仪可以实现产品的厚度检测，实现了高精度检测服务。我们使用超声波测厚仪可以帮助我们更好的实现高精度检测，同时降低对设备的破坏。我们可以利用这款设备实现高效的检测，通过该设备我们会还可以实现非接触检测，帮助设备实现高效的检测服务。

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  MProbe系列薄膜测厚仪

  当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。 反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速...

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  MProbe Vis薄膜测厚仪

  大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金...

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  MProbe UVVisSR薄膜测厚仪

  该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚...

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  MProbe RT薄膜测厚仪

  该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚...

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  MProbe NIR薄膜测厚仪

  采用近红外光谱(NIR)的测厚仪可以用于测量一些可见光和紫外光无法使用的应用领域，比如在可见光范围内有吸收的太阳能薄膜(CIGS, CdTe)可以快速的测量。 测量范围: 100 nm -200um 波长范围: 900 nm -2500 nm 适用于...

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