由上海全耀提供的非接触式光学膜厚仪是利用光学干涉原理和测量薄膜的反射光谱原理得出薄膜的实际厚度。膜厚仪主要用于测量尖端设备的生产中不可或缺的极薄膜、多层膜乃至半导体晶圆的硅胶基板厚度，膜厚仪可满足用户各种各样的需求。基本上所有光滑的、半透明的或低吸收系数的薄膜都可以测量。比如：二氧化硅，氮化硅，多晶硅，非晶硅，硅，光刻胶，聚合物膜层，聚酰亚胺等。全耀公司提供产品还包括：膜厚测量仪，薄膜测试仪，厚度测量仪以及薄膜测厚仪等，如果您对我们公司提供的产品有需求，欢迎您随时拨打我们公司的电话：400-992-5592。

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  MProbe系列薄膜测厚仪

  当一束光入射到薄膜表面时，薄膜上表面和下表面的反射光会发生干涉，干涉的发生与薄膜厚度及光学常数等有关，反射光谱薄膜测厚仪就是基于此原理来测量薄膜厚度。 反射光谱干涉法是一种非接触式、无损的、精确且快速...

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  EC-770 两用涂层测厚仪

  本仪表内置高精密双探头，利用电磁感应和涡流效应，全自动探测基材属性，计算涂镀层厚度，并通过点阵液晶快速显示结果。同时，测量数据可分组保存，并实时显示统计值。用户可分别为每组设置上下限报警值、零校准、多...

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  MProbe Vis薄膜测厚仪

  大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被MProbe Vis测厚仪测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金...

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  MProbe UVVisSR薄膜测厚仪

  该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚...

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  MProbe RT薄膜测厚仪

  该机大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且稳定的被测量。比如：氧化物，氮化物，光刻胶，高分子聚合物，半导体(硅，单晶硅，多晶硅)，半导体化合物(AlGaAs, InGaAs，CdTe, CIGS)，硬涂层(碳化硅，类金刚石炭)，聚...

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